OFDR-FSC100是自主研发的基于光频域反射（OFDR）原理的背光反射仪，可用于光子芯片在片级、封装、集成等检测环节对其传输损耗进行测量，具有超高的损耗测试动态范围和灵敏度，超高的空间分辨率和损耗定位精度，只需单次扫描即可获得光纤链路各点的分布式回波损耗（RL）和插入损耗（IL）。
该系统亦可选配光纤传感功能软件，从而使该系统实现多通道同时采集、分布式光纤应变及温度测量功能。
产品特点：
损耗测试功能
测试长度最长50m
空间分辨率高达20um
回损测试灵敏度可达-130dB
回损测试动态范围80dB
揑损测试动态范围15dB
可提供全套硬、软件解决方案
传感测试功能
测试长度最长100m
空间分辨率更高可达1mm@50m
可提供全套硬、软件解决方案
典型应用：
光子芯片传输损耗测量
芯片内损耗事件定位分析
光组件内部光链路损耗分析
芯片内光链路延时测量
分布式光纤应变、温度传感
3D光纤形状传感系统研发
产品参数：
| 技术指标 | 单位 | FSC100 |
| 损耗测试功能 | ||
| 中心波长 | nm | 1550 |
| 扫描范围 | nm | 40 |
| 波长精度 | pm | 0.1 |
| 光链路测试长度 | m | 50 |
| 空间分辨率 | um | 20 |
| 回损测试范围 | dB | 0~-125 |
| 回损灵敏度 | dB | -130 |
| 回损动态范围 | dB | 80 |
| 回损测量分辨率 | dB | 0.1 |
| 回损测量精度 | dB | ±0.5 |
| 插损动态范围 | dB | 15 |
| 插损分辨率 | dB | 0.1 |
| 插损精度 | dB | ±0.2 |
| 测试频率 | Hz | 1 |
| 传感功能 | ||
| 空间分辨率 | mm | 1@50m，10@100m |
| 应变测量范围 | uɛ | ±15000 |
| 应变测量精度 | uɛ | ±5 |
| 温度测量范围 | ℃ | -200~1200 |
| 温度测量精度 | ℃ | ±0.2 |
| 测试通道数 | - | 标准1，可定制 |
| 单次测试时间 | s | 5 |
