LUNA6415作为光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具，得益于其超高的灵敏度和空间分辨率（20μm）。LUNA6415还具备单台仪器通过选择反射或者透射模式就能完成IL、RL、长度等所有测试，大大降低了测试成本，同时简化了测试流程。相比其他测试系统，将大大增加测试产量等优势。
产品特点
回损和插损分析
光路中任一点的回损测试-分布式回损测试
光谱分析
识别不同反射事件
精准测量光纤长度（20μm空间分辨率）
产品应用
PLCs，AWG，WDM，DWDM，WSS等无源器件测试
产品参数
| 参数 | 指标 | 单位 | |
| 测试 | |||
| 采样分辨率 (两点)1 | 20 | µm | |
| 时域延迟精度2 | ± 0.0034 | % | |
| 较大测试长度 | 反射模式 | 20 | m |
| 透射模式 | 40 | m | |
| 波长范围 | 40 | nm | |
| 波长精度2 | 1.5 | pm | |
| 中心波长 | 1546.69 | nm | |
| 测试速率 | 6 | Hz | |
| 较大光功率 | 5 | mW | |
| 回损特性 (反射模式) | |||
| RL 动态范围3 | 70 | dB | |
| 测试范围4 | 0 to -130 | dB | |
| 灵敏度4 | -135 | dB | |
| 分辨率5 | ± 0.1 | dB | |
| 精度5 | ± 0.5 | dB | |
| 插损特性 (反射/透射) | |||
| IL 动态范围，透射模式 | 70 | dB | |
| IL 动态范围，反射模式6 | 15 | dB | |
| 分辨率7 | ± 0.1 | dB | |
| 精度7 | ± 0.2 | dB | |
| 硬件特性 | |||
| 光学接口 | FC/APC | – | |
| 较大功率 | 50 | W | |
| 重量 (不含控制器) | 13 (6) | lb (kg) | |
