General Photonics公司的PDL/IL测试仪(PDL-201)采用较大值/最小值搜寻法(符合TIA/EIA-455-198标准)，能够对器件的偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)、光功率进行快速测量，测量速度0.2s。该测试仪工作波长覆盖1260～1620nm，在高、低PDL和各种SOP的情况下都能得到精确的测量结果，无需波长校准，比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。该测试仪拥有RS-232、USB 及以太网接口，可以方便地与计算机连接，进行远程控制和数据传输，是精确、快速测量无源器件、DWDM 器件的理想仪器。
产品特性：
30 ms的测量速度
较宽的波长范围
PDL测量精度高
PDL模拟输出
高亮的OLED屏
产品应用：
PDL与波长测量
DWDM器件特性测试
光纤传感元件特性测试
插入损耗(IL)的测量
器件生产、研发、质量评估
| 性能参数 | 指标 |
| 工作波长范围 | 1260 to 1620 nm |
| 分辨率 | 0.01 dB |
| PDL测量精度 | +/- (0.01 + 5% PDL) dB |
| PDL测量可重复性 | +/- (0.005 + 2% PDL) dB |
| PDL测量范围 | 0 to 45 dB |
| IL测量精度 | +/- (0.01 + 5% PDL) dB |
| IL测量可重复性 | +/- (0.005 + 2% PDL) dB |
| IL测量范围 | 0 to 45 dB |
| 注入功率范围 | -40 dBm to +6 dBm |
| 测量速度 | 30 ms/次（输入功率> -30 dBm） |
